Debugging and trace probes

JTAGエミュレータ(ICE)

統合開発環境IAR Embedded WorkbenchとJTAGエミュレータの組み合わせにより、強力なデバッグ機能と効率の良い開発が可能になります。

I-jet Trace for ARM Cortex-M

I-jet Traceは豊富なデバッグおよびトレース機能を提供するパワフルなエミュレータ(ICE)です。大容量トレースメモリとSuperSpeed USB 3.0を用いた高速通信を提供します。エンベデッドトレースマクロセル(ETM)に対応しており、ETMを持つ全てのCortex-Mデバイスに対応します。

  • 全てのARM Cortex-Mコアをサポート
  • SuperSpeed USB 3.0インタフェースに対応(5Gbps)
  • USB 2.0インタフェースに対応 (480Mbps)
  • 動作電源はUSBポートより供給のため外部電源不要
  • I-jet Traceからターゲットへの電源供給可能:最大400mA(過電流保護付き)
  • 自動コア認識

デバッグ機能

  • JTAGおよびシリアルワイヤデバッグ(SWD)に対応:クロック最高100MHz
  • SWOに対応:マンチェスタおよびUARTモード・最高200Mbps
  • 複数のJTAGデバイスに対応:自動チェーン検出・グラフィック表示
  • JTAG適応クロック(RTCK)に対応
  • 自動JTAG/SWD検出
  • JTAG電圧測定・モニタ機能
  • ターゲット電力消費を測定可能:分解能160uA・最高200 ksps (キロサンプル/秒)

トレース機能

  • トレースメモリ容量: 64MB または 256MB の2種類の製品オプション
  • 1ビット、2ビットまたは4ビットのトレースデータキャプチャ
  • 最高150MHzのETMトレースクロック
  • タイミング解析のための64ビットタイムスタンプ付CPUサイクル精度
  • トレースロジックレベル範囲が1.2V - 5V
  • MIPI-20トレースヘッダーとの直接接続サポート

I-jet Trace for ARM Cortex-A/R/M

 

I-jet Trace for ARM Cortex-A/R/MはARM CoreSight™デバッグインターフェースを実装したデバイス向けに広範なデバッグおよびトレース機能を提供する強力なプローブです。大きなサイズの内蔵トレースメモリおよびUSB 3.0インターフェースによる高速通信を実現しています。更にProgram Trace Macrocell (PTM)トレースおよびEmbedded Trace Macrocell™ (ETM)にも対応しています。主な仕様は以下の通りです。

  • ARM Cortex-A, Cortex-R, Cortex-Mコアに対応
  • SuperSpeed USB 3.0インターフェース (5 Gbps)
  • USB 2.0準拠 (480 Mbps)
  • USB給電による完全な動作が可能なため、外部電源が不要
  • I-jet Trace経由で600mAまでの給電が可能。(過電流保護回路つき)
  • 自動コア検出

デバッグ機能

  • 最大100MHzのJTAGおよびSWDクロック
  • 最大200MbpsのManchesterおよびUART通信によるSWO
  • 自動チェーン認識とグラフィカルな表示による複数のJTAGデバイス対応
  • JTAG adaptive clocking (RTCK)対応
  • JTAG/SWD自動認識
  • JTAG経由での電圧測定とモニタリング
  • 最大200 ksps (kilo sample per second)で分解能160µAまでの消費電流測定

トレース機能

  • 最大256MBのトレースメモリ
  • 最大16-bit幅のトレースデータ収集
  • 最大350MHzのETMトレースクロック
  • 正確なタイミング解析のためのCPUサイクル精度64-bitタイムスタンプ
  • 各ビットごとのパラレルトレースデータ スキューを自動アライメントすることにより、PCBレイアウトや信号経路によるデジタル信号問題を補完
  • ノイズの多い環境や終端処理されていないターゲットボードから、最も信頼できるキャプチャを得るための、トレースデータおよびクロック電圧しきい値の自動補正
  • 1.2 Vから5Vまでのトレースロジックレベルに対応
  • Mictor-38およびMIPI-20トレースヘッダーへのダイレクト接続。 MIPI-60にはオプションアダプター経由で接続可能。

I-jet

I-jetは小型で使い勝手の良いJTAGエミュレータ(ICE)です。Windowsが動作するホストPCとUSBで接続します。I-jetはARM用IAR Embedded Workbenchとシームレスに統合されており、プラグアンドプレイに対応しています。

  • ARM7/ARM9/ARM11、ARM Cortex-M/Cortex-R/Cortex-A コアに対応 (詳細はお問い合わせ下さい)
  • USB2.0ハイスピードインタフェース対応 (480Mbps)
  • 外部電源不要:USBバスパワーにて動作
  • ターゲット電源をI-jetから供給可能 (最大容量400mA、過負荷保護付き)
  • ターゲットの消費電力を測定可能:最小分解能200µA (サンプリング周波数200kHz時)
  • TAGおよびシリアルワイヤデバッグ (SWD) クロック:最高32MHzまで対応 (MCUクロック速度に制限なし)
  • シリアルワイヤビューア (SWV):UARTとマンチェスタ符号化に対応
  • SWO周波数:最高60MHz
  • ダウンロード速度:最高1MByte/秒
  • 自動CPUコア認識
  • 複数のJTAGデバイスに対応:自動チェーン検出・グラフィック表示
  • JTAG適応クロックに対応 (RTCK)
  • 自動 JTAG/SWD 検出
  • JTAG電圧計測とモニタリング
  • ターゲット動作電圧範囲:1.65V ~ 5.0V
  • ARM Cortex-M0+マイクロ トレース バッファ (MTB) に対応

I-scope

I-scopeはI-jetに接続し、電圧と電流を測定する機能を追加するオプションです。ターゲットボード上の任意の箇所を測定でき、測定結果はIAR Embedded WorkbenchのC-SPYデバッガにリアルタイムに表示されます。

I-scopeで測定した電圧および電流のデータはI-jetに送られ、実行中のアプリケーションのプログラムカウンタと同期されます。測定データはC-SPYデバッガによってリアルタイムにグラフ表示および解析されます。電流検出はターゲットボード上に設けたシャント抵抗の両端に差動電流測定リード線を接続することで行うことができます。

電力解析は例えば以下のような用途に使用できます:

  • 関数毎の電流消費を算出・表示
  • 電流スパイクの原因となるI/O操作を特定
  • 低消費電力モードの解析
  • MCUの動作周波数、コア電圧による省電力の調査
  • ハードウェアの衝突を検出
  • 不要な電流スパイクを検出し、不要輻射を低減
  • さまざまなMCUスリープモードでのバッテリー消費の測定および比較

仕様

  • I+,I-間差動電圧:110mVフルスケール(シャント抵抗間)
  • 差動電流測定:1チャネル (コモンモード0-6V)
  • 電圧測定:3チャネル(コモンモード0-6V)
  • 最大サンプルレート200kHz(分解能:12bit)
  • I-jet 接続用MIPI-20フラットケーブル付属
  • テストリード線、クリップ各6本付属
  • すべてのARMコアをサポート

※I-scope のご使用にあたっては別途I-jetまたはI-jet Traceが必要です。

power_debugging

パワーデバッグ機能が組込みシステムのソフトウェア実装におけるシステムへの消費電力の影響を見える化

 

この先進のテクノロジーによって、サンプリングされた瞬間的なシステムの電流情報が、タイムスタンプの付いたデバッグ情報と同期した形でパワーデバッグAPIに送られます。これによってソースコードと消費電力の関連性が直接結びつけられることになります。

 

  • デバッグウィンドウの中で消費電力を時間軸ベースのグラフに可視化

  • 電流を機能ごとに細分化してプロファイリング

  • ソースコードとの相関性の確認

  • 電流ログによって可視化された電流サンプルの詳細情報の確認

  • ウィンドウベースによるデバッグ作業

  • 電流ブレークポイント

  • 電流サンプル情報はフィルタリング可能

 

電流グラフ

上記の電流グラフは、割り込みイベントと選択された値(位相など)における消費電力を共通の時間軸に展開して可視化したものになります。電流グラフは、システムイベントと消費電流との相関性を表しており複雑なシステム構成においても分かり易いようになっています。

 

電流プロファイリング

ファンクションまたはタスクごとにどれ位のクロックサイクルが掛かっているかを表示する以外に、IAR Embedded Workbenchのファンクションプロファイラによって各ファンクションがどれ位の電力を消費しているかを表示できます。電流プロファイルはサンプリングされた電流データを元に統計データを表しており、消費電流におけるエネルギー割合、平均値、最小値および最大値を表します。電流プロファイラは低消費電力を実現するためにソフトウェアの最適化が可能な領域をピンポイントで追い込むのに役立ちます。

 

電流ログ

電流ログの表示ウィンドウには、タイムスタンプとPC値のついた全ての電流サンプルが詳細なテキストログが表示されます。

 

動作中アプリケーションとの相関性

電流サンプルとソースコードの間の相関性は、電流グラフ表示もしくは電流ログウィンドウの中でクリックすることを可能にします。エディタウィンドウまたはディスアセンブリウィンドウ内でソースコード定義との同一性をハイライトします。

 

電流ブレークポイント

もしも、ログを取った消費電力値がユーザーの定義したしきい値を上回ったり下回ったりした場合に、デバッガの実行を停止させる設定が可能です。

 

フィルタリング

電流サンプルは、ユーザーが定義したしきい値でフィルタリングすることが可能なため、ユーザーが指定した基準値に合致した場合にのみログを取ることが可能になります。

 

製品ステータス

電流デバッグ機能はARM Cortexコア製品に対応しています。対象デバイスに電流デバッグをつなぐ場合は、I-jetのようなサポートされているデバッグプローブに接続する必要があります。電流測定の機能はI-scopeを使用した拡張も可能です。

Related resources

© IAR Systems 1995-2017 - All rights reserved.