产品

IAR C-RUN

代码质量保证包含在 IAR 的平台中

C-RUN 动态代码分析(适用于 IAR Embedded Workbench 和选定的 IAR 构建工具)可在应用程序运行时检测代码中的错误。

关键优势

C-RUN 可增强 CI/CD 自动化、现场测试和运行时错误检测,实现高效调试并识别静态分析遗漏的错误,确保嵌入式软件的可靠性。

女性开发人员,有许多代码屏幕

精确的动态代码分析

检测实际运行错误,包括硬件依赖性和运行环境特定问题,识别静态代码分析在嵌入式应用程序部署前可能忽略的错误。

特点

C-RUN 提供动态代码分析、堆完整性验证和详细的错误报告,确保嵌入式应用程序中的代码稳健可靠。

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集成于 IAR Embedded Workbench

C-RUN 完全集成到与IAR Embedded Workbench 和 IAR 构建工具中,只需最少的设置即可顺利使用。它可确保高效的运行时代码分析和调试,无缝融入嵌入式开发和自动测试的现有工作流程。
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灵活的运行时错误检查

C-RUN 可检测应用程序代码或取替换C/C++ 库进行运行时错误检查,以适应不同的应用程序类型和环境。它同时支持 C 和 C++,确保全面的运行时验证。
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全面的错误检测

C-RUN 可检测算术错误、指针访问越界和堆内存问题,防止运行时故障。它能识别整数溢出、无效内存访问、堆双重释放操作和泄漏的堆块,从而提高应用程序的稳定性。
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详细的错误报告和调试

为每个错误提供调用堆栈信息、代码关联和图形反馈。错误规则管理允许在项目、文件或代码级别执行控制、记录或忽略错误。用户可以加载和保存过滤器设置。

我们支持的架构

  Arm Renesas RX
C-RUN checked checked

 

支持的芯片

Architecture
Manufacturer
Family
Device

Arm
ABOV
A31G1xx
A31G112
Arm
ABOV
A31G1xx
A31G111
Arm
ABOV
A31G1xx
A31G123
Arm
ABOV
A31G1xx
A31G122
Arm
ABOV
A31G2xx
A31G213
Arm
ABOV
A31G2xx
A31G212
Arm
ABOV
A31G2xx
A31G226
Arm
ABOV
A31G2xx
A31G224
Arm
ABOV
A31G3xx
A31G316
Arm
ABOV
A31G3xx
A31G314
Arm
ABOV
A31G3xx
A31G313
Arm
ABOV
A31L1xx
A31L123
Arm
ABOV
A31L1xx
A31L122
Arm
ABOV
A31L2xx
A31L221
Arm
ABOV
A31L2xx
A31L222
Arm
ABOV
A31R7xx
A31R713
Arm
ABOV
A33G5xx
A33G527
Arm
ABOV
A33G5xx
A33G526
Arm
ABOV
A33G5xx
A33G524
Arm
ABOV
A33M1xx
A33M116

常见问题

哪些版本的 IAR Embedded Workbench 支持 C-RUN?

支持的版本:

  • IAR Embedded Workbench for Arm 7.20 版本及以上
  • IAR Embedded Workbench for RX 3.10 版本及以上
    • 12KB 代码大小受限的 C-RUN 可在 14 天的 EWARM 和 EWRX 免费评估版本内进行试用。
IAR C-RUN 能检测哪些错误?

IAR C-RUN 可识别运行时问题,例如栈溢出、除零错误、内存泄漏和越界访问。

IAR C-RUN 与 C-STAT 有何不同?

C-STAT 通过静态代码分析在执行之前检测潜在问题,而 C-RUN 则在代码执行过程中监控,捕捉实时错误。

IAR C-RUN 可以在资源受限的嵌入式系统上使用吗?

可以,IAR C-RUN 针对嵌入式应用进行了优化,能够以最小的性能开销高效地检测运行时错误。

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