웨비나

버그 없는 임베디드 시스템 구현과 인증 대응 - TÜV SÜD, ST, IAR이 제안하는 기능안전 실무 가이드

  • 온라인
  • 2025년 6월 4일 (수) 오후 2-4시
  • 120 분

임베디드 시스템에서 안정성과 품질 확보는 선택이 아닌 필수 요건이 되었습니다.
특히 시스템 이상을 사전에 감지하는 BIST (Built-In Self Test) 기능과, 개발자의 실수를 줄여주는 정적 분석 도구는 자동차, 산업용, 의료기기 등 다양한 분야에서 기능안전 대응의 핵심 수단으로 자리잡고 있습니다. 

이번 웨비나에서 진단 기능부터 정적 분석, 디버깅, 코드 품질까지 기능안전 개발의 실질적인 시작 방법을 확인해보세요.

1. 웨비나 주요 내용 (데모와 함께 실무 적용 중심)
  ● 프로젝트 시작 단계에서 반드시 고려해야 하는 기능안전 요소 
  ● IAR Embedded Workbench 기능안전 인증판 소개
  ● BIST (Built-In Self Test)의 필요성과 STM32 Safety Package 활용 전략
  ● IAR 환경에서의 Safety Package 연동 및 디버깅 
  ● 정적분석 (C-STAT), MISRA-C 기반 코드 품질 향상 방법 

※ 본 웨비나는 STM32 보드 기반 데모를 포함합니다.

2. 이런 분들께 추천합니다.
  ● 반복되는 오류와 디버깅 시간을 줄이고 싶은 임베디드 개발자 
  ● 칩 벤더 Safety Package 및 BIST를 실무에 적용하고자 하는 엔지니어
  ● MISRA-C 준수 및 정적 분석 도구(C-STAT) 도입을 검토 중인 팀/기업
  ● 기능안전 인증 대응이 필요한 프로젝트 관리자 및 품질 담당자 

3. 신청방법
  ● 하기 신청 양식을 통해 회사 또는 소속 단체 이메일로 등록
  ● 문의메일 : fae.kr@iar.com | 전화: 02-761-4183

기능안전 대응, 어렵게 느껴지셨나요?
이번 웨비나에서 안전한 임베디드 시스템 구현방법과 인증 대응 전략을 확인해 보세요.

감사합니다.

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